コンタクトプローブ
コンタクトプローブ
狭ピッチ電極の電子部品検査に適した超極細径のワイヤプローブです。
導体部には、パラジウム合金や、銅銀合金、タングステン、レニウムタングステン、ベリリウム銅などを使用しています。
スプリングタイプやカンチレバータイプのプローブに比べ、高集積化に伴う狭ピッチ化やエリアアレイへの対応に優れたプローブピンです。
接点が少なく、接触抵抗が安定しています。新たに、パラジウム合金を導電材料に採用したコンタクトプローブもラインアップしました。
接点が少なく、接触抵抗が安定しています。新たに、パラジウム合金を導電材料に採用したコンタクトプローブもラインアップしました。
導体 |
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コーティング |
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導体線径 | 0.02mm~0.110mm ※その他の寸法も御相談下さい。 |
導体全長 | 4.5~30mm ※その他の寸法も御相談下さい。 |
特長
- 当社独自の製法により、極小部位への先端加工を実現しています。極細径、及び短い全長のプローブを得意としています。
- 当社独自のコーティング製法と剥離製法により、優れた絶縁性とコーティング境界面のシャープ化を実現しています。また、特殊な表面処理により、絶縁コーティング表面の滑性を向上させています。
- パラジウム合金は、導体が酸化しにくい特長があり、接触抵抗の安定性が向上しました。酸化を嫌う半導体検査などに最適です。30μmの極細径から対応致します。
用途
- ICパッケージ基板の導通検査
- 狭ピッチパターンプリント基板の導通検査
- 液晶パネルの導通検査
- 各種コネクタの導通検査
- 多層基板のケルビン抵抗測定(擬似接触の検出)
- 半導体ウェーハ検査用
- スプリングプローブ用極細プランジャー など
構造
製品カタログ
コンタクトプローブの詳細は、以下のカタログをダウンロードしてご確認ください。